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特性分析软件

特性分析软件
自动分析套件(ACS)是功能强大的软件架构,便于工程师对半导体器件进行各种测试,对其特性进行详细的分析。自动分析套件(ACS)可以与吉时利公司多种业界一流的源测量单元(SMU)仪器及系统配合使用。利用标准的自动分析套件ACS,可以对在晶圆级或晶匣级对自动探针进行控制。对于手动和单一器件测试,可以考虑ACS Basic Edition. 对于高级多个待测器件晶圆级可靠性测试,可以使用标准自动分析套件(ACS)以及ACS-2600-RTM。
 

组件特性分析

    对MOSFET、双极晶体管、二极管、高功率IGBT等分立半导体器件的各种深度测试和测量结果进行创建和管理。下面对吉时利公司诸多“测量能力”进行探讨和介绍。

IC器件特性分析

    对各种IC器件和测试结构的诸多深度测试、测量结果及参数采集进行创建和管理,包括MOSFET、MOSCAP、二极管、可靠性测试结果等。下面对吉时利公司诸多“测量能力”进行探讨和介绍。

晶圆级可靠性

    自动特性分析套件 (ACS)包括与HCI、NBTI、TDDB、EM等有关的各种测试模块和项目。而且吉时利公司的多种源测量单元仪器和系统已经扩展至多通道并行测试、超快NBTI、超高压Vds击穿测试。下面对吉时利公司诸多“测量能力”进行探讨和介绍。

模片分类

    吉时利公司为半导体器件、传感器、MEMS以及小型模拟IC的片上模片分类或 已知优良模片(KGD) 测试提供高速解决方案,通过专有的高精密源测量单元(SMU)仪器或IV仪器可以对这类器件进行测试和分装。下面对吉时利公司诸多“测量能力”进行探讨和介绍。

参数测试

    自动特性分析套件 (ACS)可用于过程控制监视(PCM)以及其他相关应用。由于它可以与图形用户接口(GUI)进行交互,非常适合小批量生产应用以及包含各种半定制硬件配置的实验室应用。

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