MDO 4000C系列

新款 MDO4000C 内置多达六种仪器,每种仪器均具备应对严苛挑战的卓越性能。每台 MDO4000C 均提供强大的触发、搜索和分析功能,市场上仅这些示波器同时提供同步模拟、数字和 RF 信号分析功能,是在 IoT 及 EMI 故障排除中建立无线通信的理想选择。

    新款 MDO4000C 内置多达六种仪器,每种仪器均具备应对严苛挑战的卓越性能。每台 MDO4000C 均提供强大的触发、搜索和分析功能,市场上仅这些示波器同时提供同步模拟、数字和 RF 信号分析功能,是在 IoT 及 EMI 故障排除中建立无线通信的理想选择。 MDO4000C 型号可以全面定制及全面升级。您可以现在或在以后需要时添加各种仪器。我们还新推出全面呵护计划,为您的仪器保驾护航,甚至还涵盖意外损坏保护。

型号属于 MDO4000C 混合域示波器系列:

MDO4000C 混合域示波器功能和特点:


典型应用
1、嵌入式设计
在混合信号嵌入式系统上执行系统级调试,迅速发现和解决问题,包括当前最常见的串行总线和无线技术。

2、功率设计
使用自动功率质量、开关损耗、谐波、纹波、调制和安全作业区测量,在经济的解决方案中提供最广泛的功率探头选择范围,进行可靠的、可重复的电压、电流和功率测量。

3、EMI调试
确定哪些时域信号可能导致不想要的EMI,迅速追踪嵌入式系统中的EMI来源。实时查看时域信号对系统EMI辐射的影响。

4、无线调试
在使用蓝牙、802.11 WiFi、ZigBee或某些其他无线技术时,MDO4000C可以查看整个系统,包括模拟信号、数字信号和RF信号,而且在时间上同步,了解其真实特点。在一次捕获中,捕获超宽频段,查看多种无线技术之间的交互,或查看现代标准(如802.11/ad)中的整个宽带频率范围。

5、教育
管理工作台上的多台仪器可能会非常麻烦。MDO4000C把六种仪器整合到一台仪器中,不需要管理多台仪器。集成频谱分析仪可以讲授高级无线技术课程,同时使要求的投资达到最小。全面升级能力可以在需求变化时或在预算允许时再增加功能。

6、制造测试和调试
规格和空间限制可能会给车间带来巨大影响。独一无二的六合一MDO4000C把多台仪器整合到一台小型仪器中,最大限度地减少了机架或工作台空间。整合降低了在制造测试或调试站中使用多种不同仪器的相关成本。


1- 示波器
MDO4000C系列的核心是一台世界一流的示波器,它提供了多种完善的工具,加快了调试的每一个阶段:迅速发现异常信号,捕获异常信号,搜索波形记录,找到关心的事件,分析事件特点及被测器件特点。

数字荧光技术,采用FastAcq®高速波形捕获
如果想调试设计问题,首先必须知道存在问题。每个设计工程师都要用大量的时间查找电路中的问题,如果没有合适的调试工具,这项任务耗时长、非常麻烦。

数字荧光技术及FastAcq让您更深入地了解器件的实际运行状况。 由于其快速波形捕获速率(>340,000  wfms/s),您可以以很高的概率迅速查看数字系统中常见的偶发问题:如欠幅脉冲、毛刺、定时问题、等等。

为进一步加强查看偶发事件的能力,可以使用辉度等级指明偶发瞬态事件相对于正常信号特点发生的频次。FastAcq 采集模式下提供了 4  个波形调色板。


色温调色板使用颜色等级指明发生频率:暖色如红色/黄色表示经常发生的事件,冷色如蓝色/绿色表示很少发生的事件。
频谱调色板使用颜色等级指明发生频率,冷色如蓝色表示经常发生的事件,暖色如红色表示很少发生的事件。
普通调色板使用默认的通道颜色(如黄色用于通道 1)和灰度级指明发生频率,其中经常发生的事件用亮色表示。
倒置调色板使用默认的通道颜色和灰阶指明发生频率,其中很少发生的事件用亮色表示。
这些调色板迅速突出显示测量期间发生频次较高的事件,或在测量偶发异常事件中突出显示发生频次较低的事件。

无限余辉或可变余辉选项决定波形在显示屏上停留的时间,帮助您确定异常事件发生频次。

数字荧光技术实现高于 340,000 wfm/s 的波形捕获速率和实时辉度等级。

触发
发现电路问题只是第一步,然后,您必须捕获关心的事件,以确定根本原因。 为此,MDO4000C包含超过125种触发组合,提供了一套完整的触发功能,包括欠幅脉冲触发、逻辑触发、脉宽触发/毛刺触发、建立时间和保持时间违规触发、串行包触发和并行数据触发,帮助您迅速定位关心的事件。 由于高达20 M记录长度,您可以在一个采集中捕获许多关心的事件,甚至数千个串行包,进一步进行分析,同时保持高分辨率,放大精细的信号细节,记录可靠的测量数据。


超过 125 种触发组合,轻松捕获关心的事件。
Wave Inspector®波形导航和自动搜索
由于长记录长度,一次采集中可以包括几千屏波形数据。作为业界最好的导航和搜索工具,Wave Inspector® 可以在数秒内找到关心的事件。

Wave Inspector 控件在查看、导航和分析波形数据方面提供前所未有的效率。转动外环卷动控件(1),浏览长记录。在几秒钟内,从头到尾获得详细信息。找到关心的部分,还要查看更多细节?只需转动内环缩放控件 (2)。

缩放和卷动
这个专用的两层前面板控件为缩放和卷动提供直观的控制。 内环控件调节缩放系数(或缩放比例),顺时针旋转将激活缩放并逐渐增大缩放系数,逆时针旋转将减小缩放系数,最终可关闭缩放。 您无需再去通过几个菜单来完成缩放显示。 外环控件在波形中卷动缩放框,以快速到达所关心的波形部分,同时还利用力反馈来确定在波形中卷动的速度。 外环控件旋转得越快,缩放框移动得越快。 只需向相反方向转动即可改变卷动的方向。

用户标记
在前面板按 Set Mark(设置标记)按钮,可以在波形上放置一个或多个标记。 如果要在这些标记之间导航,只需在前面板上按 Previous (←)(上一个)和 Next (→)(下一个)按钮。

搜索标记
Search(搜索)按钮允许自动搜索长采集内容,查找用户定义的事件。事件的所有发生位置都将以搜索标记高亮显示,并可通过前面板上的 Previous (←)(上一个)和 Next (→)(下一个)按钮方便地进行导航。搜索类型包括边沿、脉宽/毛刺、超时、欠幅、逻辑、建立时间和保持时间、上升时间/下降时间、并行总线和 I2C、SPI、RS-232/422/485/UART、USB 2.0、以太网、CAN、CAN FD、LIN、FlexRay、MIL-STD-1553、ARINC-429 和 I2S/LJ/RJ/TDM 包内容。搜索标记表以表格方式显示在自动搜索期间找到的事件。每个事件都显示有一个时间标记,以便轻松进行事件间定时测量。


自动测量信道功率
EMI调试
不管是购买设备执行内部测试,还是付费由外部测试机构认证产品,EMC测试成本都非常高。而且假设你的产品第一次就通过测试。多次拜访测试机构可能会给项目增加大量成本,并明显耽搁项目。使这一费用达到最小的关键是在早期确定并调试EMI问题。传统上,人们一直使用拥有一套近场探头的频谱分析仪,确定干扰频率的位置和幅度,但其确定问题根源的能力非常有限。设计人员正越来越多地使用示波器和逻辑分析仪,由于现代设计中大量数字电路的复杂交互,EMI问题的瞬时特点更加明显。

MDO4000C集成示波器、逻辑分析仪和频谱分析仪,为调试现代EMI问题提供了最优秀的工具。许多EMI问题是由于时域中的事件导致的,如时钟、电源和串行数据链路。 由于能够以时间相关的方式查看模拟信号、数字信号和RF信号,MDO4000C是市场上唯一能够发现时域事件与频谱辐射来源之间关系的仪器。

射频探测
频谱分析仪上的信号输入方法通常局限为电缆连接或天线。但通过选配TPA-N-VPI适配器,任何有源50 Ω TekVPI探头都可以用于MDO4000C系列上的频谱分析仪。这在寻找噪声源方面增加了灵活性,通过在射频输入上使用真实的信号浏览可更方便地进行频谱分析。

此外,选配的预放大器附件可帮助对更低幅值信号进行研究。TPA-N-PRE 预放大器在 9 kHz - 6 GHz频率范围内提供选配 TPA-N-VPI适配器可以把任何有源50 Ω TekVPI探头连接到RF输入上。

形象显示射频信号中的变化
MDO4000C系列显示画面上的时域格线图支持三条RF时域轨迹,这些轨迹从频谱分析仪输入的底层I和Q数据导出,包括:
幅度 - 频谱分析仪输入的瞬时幅度相对于时间关系
频率 – 频谱分析仪输入的瞬时频率相对于中心频率随时间变化
相位 –频谱分析仪输入的瞬时相位相对于中心频率随时间变化

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